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(4/17) 粒子径測定の実践知識と活用のポイント

粒子径測定の実践知識と活用のポイント

〜最適な測定手法を使い分けるための力を養う〜

粒子径測定の各手法について、装置・原理・活用のポイント等を幅広く且つ詳しく解説します。
それぞれの手法の実践知識を学ぶことで、最適な手法を使い分ける力が養えます。測定の効率化や正確性の向上、実務の課題解決、基礎の習得等に、ぜひ本セミナーをご活用ください。

お知らせ
本セミナーは、講師所属企業と競合する会社のご参加をお断りさせていただく場合がございます。ご了承ください。
ご不明の際は、担当までお問合せください。

講 師 スペクトリス(株) マルバーンパナリティカル事業部 プロダクトスペシャリスト 池田 英幸 氏
/アプリケーションスペシャリスト 平村 行慶 氏

【講師詳細はこちら】
日 時 2018年4月17日(火)  13:00〜16:30
会 場 東京・品川区大井町 きゅりあん  4F  第1特別講習室  会場地図
受講料(税込) 43,200円 (会員受講料 41,040円 )  会員登録について
 定価:本体40,000円+税3,200円
 会員:本体38,000円+税3,040円
【2名同時申込みで1名分無料キャンペーン(1名あたり定価半額の21,600円)】
 ※2名様とも会員登録をしていただいた場合に限ります。
 ※同一法人内(グループ会社でも可)による2名同時申込みのみ適用いたします。
 ※3名様以上のお申込みの場合、上記1名あたりの金額で受講できます。
 ※受講券、請求書は、代表者にご郵送いたします。
 ※請求書および領収書は1名様ごとに発行可能です。
    (申込みフォームの通信欄に「請求書1名ごと発行」と記入ください。)
 ※会員割引やその他の割引の併用はできません。

 なお、本システムのお申し込み時のカート画面では割引は表示されませんが、
  上記条件を満たしていることを確認後、ご請求書またはクレジット等決済時等に
  調整させて頂きます。

備 考 ※資料付
※講義中の録音・撮影はご遠慮ください。
※実習以外での講義中のパソコン使用はキーボードの打音などでご遠慮いただく場合がございます。
得られる知識 ・粒子径分布測定に使用される装置の種類 
・それぞれの装置の原理と特徴、使い分け
・測定装置運用上の注意点
対 象 ・企業または研究所で、粒子や粉体を扱う仕事をされている方で、測定器に関する知識が不足しているとお考えの方。
・企業の品質管理部署で業務を行うにあたり、粒子径分布測定をどのように活用すればよいのかお困りの方。

講演趣旨

 粒子径測定は、工業分野での開発や品質管理、および基礎研究においても幅広く行われています。
 測定する対象サンプルも、医薬品、食品、研磨剤、化学製品、セメント、土壌など多岐に渡ります。これらの測定対象のほか、測定したい粒子径の大きさの範囲や測定目的によっても、最適な測定手法を選んで使い分けることが重要です。
 たとえば、主にミクロン領域の粒子径の大きさの分布を、簡便に再現性良く評価するには、レーザー回折・散乱法が最も良く使われていますが、粒子の形状や流動性を評価するには、画像法など別の手法が必要になります。また、1ミクロン以下のいわゆる「サブミクロン粒子」や「ナノ粒子」では、光学顕微鏡による測定は困難で、電子顕微鏡を用いることで観察は可能ですが、一度に多くの粒子を測定することが困難で、統計的な再現性に問題が生じます。このような微小粒子の敏速な測定には動的光散乱法(DLS)が最も良く使われますが、広い分布を持ったサンプル中の小粒子側の測定精度など課題もあります。近年では、サブミクロンやナノ粒子をより正確に測定するための新たな手法がいくつか開発され、医薬や材料開発などの最先端分野で応用されています。
 本講座では、粒子径分布測定に用いられる多くの手法の原理と特徴、使い分け、および注意点につきまして、できる限り幅広く、かつ詳細にお伝えしたいと思います。最も初歩的なところから、専門用語も解説致しますので、受講に当たっての予備知識は不要です。
 本講座では、主にレーザー回折を専門とする講師(池田)と、主に画像解析と粉体流動性測定装置を専門とする講師(平村)が分担し、粒子や粉体を扱われる全ての皆様にとって、基礎となる計測の知識をお持ち帰り頂けるような講演を目指します。

※複数名で受講の際は、備考欄に受講される方の「氏名・部署名・メールアドレス」を
 ご連絡ください。

(4/17) 粒子径測定の実践知識と活用のポイント

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講演内容

1.粒子径分布の基礎(池田)
 1.1 D50など代表粒子径の定義
 1.2 測定方法によって値が変わる
 1.3 様々な測定原理と使い分け
 
2.レーザー回折散乱法(池田)
 2.1 測定原理
 2.2 ハードウェア・ソフトウェアの構成
 2.3 長所・短所、測定事例
 2.4 装置の買い替え時の注意事項
 
3.動的光散乱法(DLS)とゼータ電位測定(池田)
 3.1 測定原理
 3.2 ハードウェア・ソフトウェアの構成
 3.3 長所・短所、測定事例
 
4.新しい原理の粒子径測定法(池田)
 4.1 ナノトラッキング法(NTA、PTA)
 4.2 共振式質量測定法(RMM)
 4.3 テーラー分散法
 
5.プロセス用粒子径分布測定装置(池田)
 5.1 装置構成
 5.2 適用のための課題
 5.3 応用事例
 
6.画像解析法(平村)
 6.1 測定原理
 6.2 ハードウェア・ソフトウェア
 6.3 測定事例
 
7.パウダーレオメーター(平村)
 7.1 測定項目
 7.2 装置概要
 7.3 応用事例

□質疑応答・名刺交換□

留意事項

※書籍・セミナー・イーラーニングBOOKのご注文に関しましては株式会社イーコンプレスが担当いたします。

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