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(2/1、21)FT-IR・スペクトル解析 実践テクニックを身に付けるための2日間講座

FT-IR・スペクトル解析
実践テクニックを身に付けるための2日間講座


[1日目] 講義と実技で学ぶFT-IRの基礎と実践テクニック
[2日目] 分析におけるスペクトル解析の基本と応用テクニック

【受講者数最大20名まで】

本セミナーのお申込みは、受講者が20名に達した時点、もしくは2019年1月25日(金)で締め切らせて頂きます。

より広くより深い実践テクニックの習得を狙って"スペクトル解析"に絞ったセミナーも開講
 1日目の「講義と実技で学ぶFT-IRの基礎と実践テクニック」ではFT-IR(フーリエ変換赤外分光法)の基礎から実際に使うことを想定した知識・ノウハウを測定装置を使った演習を通じて学び、2日目ではFT-IRを中心とした分光分析におけるスペクトル解析の実践テクニックを習得することが出来ます。
 1日目でもFT-IRのスペクトル解析のノウハウについて講師は言及する予定ですが、2日目にFT-IRは無論のこと、XPS(X線光電子分光法)やラマン分光法など、分光分析におけるスペクトル解析の実践テクニックに絞ってじっくり解説頂くことで、より深くより総合的なスペクトル解析のノウハウを習得頂くことを目指しています。

日 時 [1日目] 2019年2月1日(金)  10:30〜16:30
[2日目] 2019年2月21日(木)  10:30〜16:30
会 場 [1日目] 東京・品川区大井町 きゅりあん  5F 第3講習室

会場地図

[2日目] 東京・品川区大井町 きゅりあん  5F 第4講習室

会場地図

受講料(税込) 64,800円  (会員受講料61,560円)  会員登録について
定価:本体60,000円+税4,800円
会員:本体57,000円+税4,560円

上記価格より:(同一法人に限ります)
  2名で参加の場合1名につき7,560円割引
  3名以上で参加の場合1名につき10,800円割引
キャンペーン!2名同時申込みで1名分無料適用外セミナーです

備 考1日目、2日目共に資料・昼食付
※講義中の録音・撮影はご遠慮ください。
※講義中のパソコン使用はキーボードの打音などでご遠慮いただく場合がございます。
主催者より 講師と類似した研修サービス等を提供するコンサルタント、経営コンサルティング会社、検査装置メーカー・代理店等に所属されいている方の受講はお断りすることがございます。また、所属を記載されないでお申し込みされた場合、所属を確認させて頂くことがございます。
得られる知識 【1日目:講義と実技で学ぶFT-IRの基礎と実践テクニック】
・赤外分光法の各種測定法
・アタッチメント特徴と測定技術
・様々な試料・目的に合わせた測定法
・スペクトル処理・解釈の考え方

【2日目:分析におけるスペクトル解析の基本と応用テクニック】
・スペクトル解析の基礎から応用、実践
・スペクトルの正しい解釈(定性・定量)とそのためのデータ処理
・良いスペクトルを得るコツ、ノウハウ
・潜在情報を引き出す応用解析法
・データベースの利用方法
・混合物解析の実際の手順
・赤外分光法を用いた問題解決の手順

講師

1日目:講義と実技で学ぶFT-IRの基礎と実践テクニック

第1部 FT-IRの基礎を講義で理解 (10:30〜12:00)
ジャパン・リサーチ・ラボ 代表 博士(工学) 奥村 治樹 氏

第2部 FT-IRの実践テクニックを実機を用いて体感 (12:50〜16:00)
ブルカージャパン(株) オプティクス事業部 営業部・部長 星 純一 氏
ブルカージャパン(株) オプティクス事業部 営業部・セールスマネージャー 中谷 剛 氏

質疑応答 (16:00〜16:30)
本セミナーの質疑応答は各部の最後に取らずにセミナーの最後にまとめて実施します。
第1部〜第2部全ての講師に対応頂く予定です。

2日目:分析におけるスペクトル解析の基本と応用テクニック

ジャパン・リサーチ・ラボ 代表 博士(工学) 奥村 治樹 氏


※複数名で受講の際は、備考欄に受講される方の「氏名・部署名・メールアドレス」を
ご連絡ください。

(2/1、21)FT-IR・スペクトル解析 実践テクニックを身に付けるための2日間講座

価格:

64,800円 (税込)

[ポイント還元 3,240ポイント〜]
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講演内容講演趣旨

[1日目] 2月1日(金) 10:30〜16:30

講義と実技で学ぶFT-IRの基礎と実践テクニック
〜 サンプリングから測定、スペクトル解析まで実体験できる 赤外分光法 完全マスター講座 〜

※1日目のみのお申込みはコチラから

 FT-IRやXPSを中心としたいわゆる分光分析は、材料やプロセスの解析・評価、トラブル解決において必要不可欠なものとなっている。開発当初は、スペクトルを得るだけでも長い時間と高度な技術を要した。しかし、近年の技術進歩で誰でも簡便にスペクトルを取得できる、場合によっては装置導入日に教科書に出ているようなきれいなスペクトルを得られることも少なくない。
言うまでもなく、スペクトルは得られれば目的が達成できるわけではなく、解析して初めて必要な情報を得て問題解決、目的達成をすることができる。また、その解析に用いることができるスペクトルであるかということを判断することも重要である。しかし、装置の進歩だけでなく、コンピューターやソフトの進歩もあり、現在では解析も多くの部分が自動化、ブラックボックス化されている。そのため、間違った結論が導かれてしまっているケースが少なくない。
本講では、スペクトル解析の基本的な考え方から、前処理、同定や定量から数学的アプローチなどの解析、実際の様々な事例や手法による分析例などを詳細に解説する。

第1部 FT-IRの基礎を講義で理解
1.赤外分光法の基本原理と特徴
 1.1 赤外分光が見ているもの
 1.2 分光分析における吸収の定義
 1.3 赤外分光の波長領域
 1.4 赤外分光分析
 1.5 振動モード
 1.6 気体と液体・固体 (H2O)
 1.7 赤外分光法の長所・短所
 1.8 主な検出器
 1.9 検出器の感度特性
2.代表的な測定法
 2.1 透過法  
 2.2 フリンジ(干渉縞)
 2.3 全反射法(ATR)
 2.4 ATR法のバリエーション
 2.5 Geの透過特性
 2.6 FTIR−ATRにおける測定深さ
 2.7 ATR法における注意点
 2.8 ATR補正
 2.9 異常分散によるスペクトルへの影響
 2.10 様々なATRアタッチメント
 2.11 反射法
 2.12 スペクトル例
 2.13 高感度反射の原理
 2.14 拡散反射法
 2.15 スペクトル例
 2.16 主な測定法のまとめ
 2.17 顕微赤外
 2.18 カセグレンレンズによる光学系
3.赤外スペクトル
 3.1 赤外スペクトルの概要
 3.2 主な振動モード
 3.3 主な吸収帯
 3.4 主な有機系官能基の吸収帯
 3.5 周辺環境の影響
 3.6 イオン性官能基の吸収帯
 3.7 赤外分光の構造敏感性
 3.8 指紋領域の利用
 3.9 カルボニル基の判別
 3.10 スペクトルサーチ
 3.11 スペクトルデータベース
 3.12 オープンライブラリ
 3.13 代表的検索アルゴリズム
 3.14 検索アルゴリズムの限界
 3.15 ヒットスコアの罠
 3.16 検索結果の間違い例
 3.17 スペクトルサーチのコツ
 3.18 差スペクトル
 3.19 差スペクトルの利用
 3.20 混合解析
 3.21 系統分析
 3.22 スペクトルパターン
 3.23 帰属の考え方
4.定量分析
 4.1 検量線法
 4.2 検量線法が適用困難なケース
 4.3 ピーク強度比法
5.大気成分補正
 5.1 大気成分(CO2、H2O)
 5.2 窒素パージ法
 5.3 差分法
6.測定条件
 6.1 分解能

第2部 FT-IRの実践テクニックを実機を用いて体感
1.試料作製:KBr錠剤法用サンプルの作成
 ・綺麗なスペクトルをえるためのコツやポイントを解説しながら実際に錠剤を作製
 ・作成後サンプルを透過法により測定
 ・スペクトルの良い悪いの判断等について解説
2.透過スペクトルとATRスペクトルの測定と比較
 ・同一サンプルを透過法とATR法で測定して比較することで違いを理解
 ・ATR測定のコツ、ポイントの解説と実践
 ・透過スペクトルの注意点の解説
 ・ATRスペクトルの利点、特徴の実践理解
3.データベース検索と解析方法
 ・検索アルゴリズムによる違い
 ・領域選定の効果
 ・データベース選定の効果
※ 実技体験に使用する装置はフーリエ変換赤外分光光度計「ALPHA II」を予定しております。
※ 進捗状況により追加で測定・解析体験を行います。
※ 受講者全員がプログラム内の実技体験いずれかを1回以上行って頂く予定ですが、進行の関係上、受講者全員が
  希望の実技を体験できることを保証するものではございません。

質疑応答
本セミナーの質疑応答は各部の最後に取らずにセミナーの最後にまとめて実施します。
第1部〜第2部全ての講師に対応頂く予定です。
[2日目] 2月21日(木) 10:30〜16:30

分析におけるスペクトル解析の基本と応用テクニック
〜 "きれいではない"スペクトルを読み取るための前処理・同定・解析ノウハウ 〜

※2日目のみのお申込みはコチラから


 FT-IRやXPSを中心としたいわゆる分光分析は、材料やプロセスの解析・評価、トラブル解決において必要不可欠なものとなっている。開発当初は、スペクトルを得るだけでも長い時間と高度な技術を要した。しかし、近年の技術進歩で誰でも簡便にスペクトルを取得できる、場合によっては装置導入日に教科書に出ているようなきれいなスペクトルを得られることも少なくない。
 言うまでもなく、スペクトルは得られれば目的が達成できるわけではなく、解析して初めて必要な情報を得て問題解決、目的達成をすることができる。また、その解析に用いることができるスペクトルであるかということを判断することも重要である。しかし、装置の進歩だけでなく、コンピューターやソフトの進歩もあり、現在では解析も多くの部分が自動化、ブラックボックス化されている。そのため、間違った結論が導かれてしまっているケースが少なくない。
 本講では、スペクトル解析の基本的な考え方から、前処理、同定や定量から数学的アプローチなどの解析、実際の様々な事例や手法による分析例などを詳細に解説する。

1.スペクトル解析の基本
1.1 データの信頼性
1.2 分析の基本フロー
1.3 正確なデータを得るために
1.4 AccuracyとPrecision
1.5 信頼度要因を整理する
1.6 横軸、縦軸の意味
1.7 基本ピーク形状
1.8 半値幅の持つ意味
1.9 ピーク変化(位置、半値幅)の意味
1.10 スペクトル解析の分類
1.11 スペクトルから構造・状態へ
1.12 ピーク? ノイズ?
1.13 動的に全体を見る
2.スペクトルの前処理
2.1 データ前処理
2.1.1 スペクトル前処理の分類
2.1.2 ベースライン補正
2.1.3 スムージング
2.1.4 補間
2.1.5 微分
2.1.6 対数化
2.1.7 平均化
2.1.8 ノーマライズ、規格化(レンジスケール)
2.1.9 自動処理の注意点
2.1.10 最も重要なこと
2.2 解析的前処理(FTIRを例に)
2.2.1 大気成分(CO2、H2O)補正
2.2.2 ATR補正
2.2.3 K-K変換、K-M(Kubelka-Munk)変換
2.2.4 注意点
3.スペクトルの解析(同定・定性)
3.1 同定と定性
3.2 ピーク帰属
3.3 複数ピークの併用
3.4 スペクトルパターン
3.5 ピーク帰属の裏ポイント
3.6 スペクトルデータベース
3.7 代表的検索アルゴリズム
3.8 ヒットスコアの罠
3.9 スペクトルサーチのコツ
3.10 差スペクトル
3.11 混合解析
3.12 オープンライブラリ
4.スペクトルの解析(定量)
4.1 ピーク高さと面積
4.2 ベースラインの引き方
4.3 ピーク分離
4.4 ピーク分離における条件設定
4.5 検量線法による定量
4.6 定量値に対する影響要因
4.7 限界の定義を理解する
4.8 変動要因の軽減
5.スペクトルの解析(数学的アプローチによる物理意味の導出)
5.1 相関解析
5.2 相関解析の注意点
5.3 多変量解析
5.4 予測と要約
5.5 多変量解析の応用
5.6 本来のスペクトル解析
6.各種測定法の例
6.1 角度変化法
6.2 角度変化法の注意点
6.3 マッピングと多変量解析(PCA等)
6.4 マススペクトル
7.実例
7.1 X線光電子分光法(XPS,ESCA)
7.1.1 ワイドスキャン(サーベイスキャン)
7.1.2 ナロースキャン(代表的な元素)
7.1.3 元素同定
7.1.4 化学状態の同定
7.1.5 定量評価
7.1.6 XPSにおけるベースラインの選択
7.1.7 オージェピークの利用
7.1.8 サテライトピークの利用
7.1.9 価電子帯の利用
7.1.10 角度変化測定による深さ方向分析
7.2 フーリエ変換赤外分光法(FT−IR)
7.2.1 赤外分光法(IR)の原理
7.2.2 FT-IRの長所・短所
7.2.3 測定法
7.2.4 吸光度スペクトルと透過スペクトル
7.2.5 主な吸収帯
7.2.6 周辺環境の影響
7.2.7 赤外分光の構造敏感性
7.2.8 指紋領域の利用
7.2.9 系統分析
7.2.10 帰属の考え方
7.2.11 異常分散によるスペクトルへの影響
7.2.12 ATR適用の注意点と対策
7.2.13 ピーク強度比法
7.2.14 誤差要因
7.2.15 配向図
7.2.16 差スペクトルが上手くいかない?
7.2.17 高度な構造解析
7.3 ポリイミドの表面処理層の深さ方向分析
7.4 ラマン分光法
7.4.1 ラマン散乱
7.4.2 ラマン散乱と赤外吸収
7.4.3 レーザー波長と散乱強度
7.4.4 ラマンスペクトル
7.4.5 ラマンスペクトルの解析
7.4.6 ラマンイメージング
7.5 飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS)
7.5.1 TOF-SIMSの概要
7.5.2 TOFにおけるマススペクトル解析
8.仮説思考による研究開発と問題解決
9.まとめ・質疑応答

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