
電子機器の故障メカニズムの実態理解と未然防止・故障解析の実務【2日間セミナー】
なぜ壊れるのか。どう見抜き、どう未然に防ぐのか。市場故障のメカニズムと故障解析を体系的に理解し、未然防止策を構築できる力を養う2日間
受講可能な形式:【ライブ配信】のみ
| 日 時 | 【ライブ配信】 2026年8月25日(火) 10:30~16:00 | |
|---|---|---|
| 受講料(税込) | 82,500円 定価:本体75,000円+税7,500円 【2名同時申込みで1名分無料キャンペーン(1名あたり定価半額の82,500円)】 ※2名様とも会員登録をしていただいた場合に限ります。 2名様以降の受講者は、申込み前に会員登録をお済ませください。 ※同一法人内(グループ会社でも可)による2名同時申込みのみ適用いたします。 ※3名様以上のお申込みの場合、上記1名あたりの金額で受講できます。 ※請求書(PDFデータ)は、代表者にE-mailで送信いたします。 ※請求書および領収書は1名様ごとに発行可能です。 (申込みフォームの通信欄に「請求書1名ごと発行」と記入ください。) ※他の割引は併用できません。 ※テレワーク応援キャンペーン(1名受講)【オンライン配信セミナー受講限定】 1名申込みの場合:受講料 定価:66,000円 定価:本体59,999円+税6,001円 ※1名様でオンライン配信セミナーを受講する場合、上記特別価格になります。 | |
| ポイント還元 | 誠に勝手ながら2020年4月1日より、会員割引は廃止とさせて頂きます。 当社では会員割引に代わり、会員の方にはポイントを差し上げます。 ポイントは、セミナーや書籍等のご購入時にご利用いただけます。 会員でない方はこちらから会員登録を行ってください。 | |
| 配布資料 | Live配信受講:PDFテキスト(印刷可・編集不可) ※セミナー資料は、電子媒体(PDFデータ/印刷可)をマイページよりダウンロードいただきます。 (開催前日を目安に、ダウンロード可となります) ※ダウンロードには、会員登録(無料)が必要となります。 | |
| オンライン配信 | 【Live配信の視聴方法】 【ライブ配信(Zoom使用)セミナー】 ビデオ会議ツール「Zoom」を使ったライブ配信セミナーとなります。 ・ZoomによるLive配信 ►受講方法・接続確認(申込み前に必ずご確認ください) 【テキスト】 テキストは、電子媒体(PDFデータ/印刷可)をマイページよりダウンロードできます。 (開催前日を目安に、ダウンロード可となります) 【マイページ】 ID(E-Mailアドレス)とパスワードをいれログインしてください。 >> ログイン画面 | |
| 備 考 | 資料 付 ※講義中の録音・撮影はご遠慮ください。 本セミナーはサイエンス&テクノロジー株式会社が主催いたします。 | |
セミナー講師
故障物性ソリューション 味岡 恒夫 氏【専門】故障物性(モデル、メカニズム)、半導体プロセス、信頼性評価、故障解析、材料分析
【兼務】日本信頼性学会故障物性研究会 副主査
沖電気工業にてLSIプロセス開発、LSIに係る物性研究
沖エンジニアリングにて、信頼性評価技術統括およびLSIプロセス診断(LSIの良品解析)開発、ロックイン発熱解析応用技術開発
NTTエレクトロニクスにて、故障解析受託サービス
東レリサーチセンターにて受託分析(いずれも顧客相談窓口)
現在は故障物性ソリューションとして、LSIや電子機器の信頼性・解析のセミナー・研修を実施
セミナー趣旨
電子機器・部品の品質、信頼性は国内産業を支えとなっており、多くの技術者が参入している。技術者の早期育成を行うために広く行われている技術の習得を急ぐが、それだけでは煩雑な市場故障に対抗できない。知識を活用するためには実際に起こっている市場故障と故障に関するモデルやメカニズム、及びその基となる物性を理解し、実際の課題を正しく把握し、未然防止策を構築する能力を育成することが不可欠である。以上のことから、本セミナーでは初心者にも理解しやすいように、実際の市場故障、各種部品や実装基板の故障メカニズム、温度・湿度に関する故障メカニズムの基礎知識と実際に行われている未然防止法と故障解析など、高信頼性電子機器・部品の開発・製造に関連する多くの技術をわかりやすく、図や事例を多く用いて説明する。
【1日目:2026年8月25日(火)10:30~16:00】
1.故障未然防止:『高信頼性電子部品・機器はどのように作られるか』
1.1 高信頼性電子部品・機器開発・製造の留意点
1.2 製品開発の流れ
1.3 回路設計とレイアウト設計による信頼性の作り込み
1.4 開発・設計における信頼性の作りこみ:主要故障と想定外の故障
1.5 信頼性(品質)工学の適用
1.6 製造の課題対策
2.市場故障
2.1 十分な未然防止策を講じても市場故障は起こる(市場環境の複雑さ)
2.2リコール情報から想定される市場故障の要因
3.温度・湿度に関する故障メカニズム
3.1 温度による変化:安定状態の変化と変化するためのエネルギー
3.2 温度に関連する故障モード
3.3 温度変化がもたらす熱応力と熱疲労
3.4 熱疲労による故障モード
3.5 湿度による故障メカニズム(表面に起こる故障と内部・界面で起こる故障)
3.6 湿度による故障メカニズム
4.各種部品・実装基板の故障メカニズム
4.1 MLCCの故障メカニズム
4.2 LIB,および電界コンデンサの故障メカニズム
4.3 リレー、接点めっきの故障メカニズム
4.4 高分子材料の特性要因と劣化
4.5 LSIの変遷と故障メカニズム
4.6 パワーデバイスの故障メカニズム
4.7 ICパッケージの故障メカニズム
4.8 プリント基板の弱点(不具合)
4.9 部品実装(搭載)における不具合
□ 質疑応答 □
【2日目:2026年9月10日(木)10:30~15:30】
5.信頼性試験
5.1 信頼性の規格とその問題
5.2 車載用電子機器への要求
5.3 信頼性試験(加速試験)の進め方
5.4 加速係数の求めかた
5.5 検体と試験前後の評価
6.環境ストレスと試験
6.1 環境ストレスに対する試験の種類
6.2 温度・湿度に関する試験
6.3 機械的ストレスに関する試験
6.4 屋外環境試験(耐候性、腐食ガス、塩水噴霧、散水・浸水、塵埃)
6.5 IP等級試験
7.電子機器に及ぼすサージ・ノイズの故障メカニズムと対策
7.1 ザージの種類と対策
7.2 破壊モードと実際の故障
7.3 EOSの原因究明事例
7.4 電磁波ノイズの試験法と課題
8. 部品採用に関するポイント
8.1 部品メーカの信頼性の作り込み
8.2 適切な部品調達法
8.3 部品選定のための評価
8.4 良品解析
8.5 市場流通在庫品
9.電子機器の故障解析
9.1 故障解析の重要性
9.2 故障解析の流れ
9.3 故障解析ツール
9.4 ロックイン発熱解析を用いた解析事例
9.5 故障メカニズムの検証
□ 質疑応答 □
1.故障未然防止:『高信頼性電子部品・機器はどのように作られるか』
1.1 高信頼性電子部品・機器開発・製造の留意点
1.2 製品開発の流れ
1.3 回路設計とレイアウト設計による信頼性の作り込み
1.4 開発・設計における信頼性の作りこみ:主要故障と想定外の故障
1.5 信頼性(品質)工学の適用
1.6 製造の課題対策
2.市場故障
2.1 十分な未然防止策を講じても市場故障は起こる(市場環境の複雑さ)
2.2リコール情報から想定される市場故障の要因
3.温度・湿度に関する故障メカニズム
3.1 温度による変化:安定状態の変化と変化するためのエネルギー
3.2 温度に関連する故障モード
3.3 温度変化がもたらす熱応力と熱疲労
3.4 熱疲労による故障モード
3.5 湿度による故障メカニズム(表面に起こる故障と内部・界面で起こる故障)
3.6 湿度による故障メカニズム
4.各種部品・実装基板の故障メカニズム
4.1 MLCCの故障メカニズム
4.2 LIB,および電界コンデンサの故障メカニズム
4.3 リレー、接点めっきの故障メカニズム
4.4 高分子材料の特性要因と劣化
4.5 LSIの変遷と故障メカニズム
4.6 パワーデバイスの故障メカニズム
4.7 ICパッケージの故障メカニズム
4.8 プリント基板の弱点(不具合)
4.9 部品実装(搭載)における不具合
□ 質疑応答 □
【2日目:2026年9月10日(木)10:30~15:30】
5.信頼性試験
5.1 信頼性の規格とその問題
5.2 車載用電子機器への要求
5.3 信頼性試験(加速試験)の進め方
5.4 加速係数の求めかた
5.5 検体と試験前後の評価
6.環境ストレスと試験
6.1 環境ストレスに対する試験の種類
6.2 温度・湿度に関する試験
6.3 機械的ストレスに関する試験
6.4 屋外環境試験(耐候性、腐食ガス、塩水噴霧、散水・浸水、塵埃)
6.5 IP等級試験
7.電子機器に及ぼすサージ・ノイズの故障メカニズムと対策
7.1 ザージの種類と対策
7.2 破壊モードと実際の故障
7.3 EOSの原因究明事例
7.4 電磁波ノイズの試験法と課題
8. 部品採用に関するポイント
8.1 部品メーカの信頼性の作り込み
8.2 適切な部品調達法
8.3 部品選定のための評価
8.4 良品解析
8.5 市場流通在庫品
9.電子機器の故障解析
9.1 故障解析の重要性
9.2 故障解析の流れ
9.3 故障解析ツール
9.4 ロックイン発熱解析を用いた解析事例
9.5 故障メカニズムの検証
□ 質疑応答 □
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